◆ 設備用途等離子體增強化學氣相淀積(簡稱PECVD),主要用途是在硅片表面淀積一層減反射氮化硅膜(SixNy),同時利用在淀積過程中產生的活性H+離子,對硅片表面和內部進行鈍化處理。在體現減少光反射的同時,也提高了硅片的少子壽命,最終直接體現在晶體硅電池的轉換效率。該設備為國內唯一的第四代PECVD設備,綜合性能媲美國際一流產品,其超越同行的實際成膜均勻性,大大減少了上代設備的色差現象,尤其適用于多晶電池片的工藝生產。◆ 產品亮點1、單管產能全球率先達到280片(125方片)2、業內獨有、領先的壓控/溫控技術,最成熟的工藝支持3、國產設備中唯一可媲美世界一流設備的成膜均勻性和表面色差4、設備有效工作時間較其他國產設備高5%以上5、自動上下舟系統中國內唯一采用進口精密直線單元<!--[if !supportLists]-->◆ <!--[endif]-->主要技術參數
序號 | 指 標 項 目 | 指 標 值 |
1 | 成膜種類 | 氮化硅 |
2 | 裝片尺寸 | □125mm,□156mm |
3 | 裝片量 | 352片/批(□125mm),308片/批(□156mm) |
4 | 送舟方式 | 軟著陸 |
5 | 膜厚均勻性 | 片內≤±4% 片間≤±4% 批間≤±3%(膜厚目標值75nm) |
6 | 折射率 | 2.0~2.1 |
7 | 工作溫度范圍 | 100~500℃ |
8 | 控溫段數 | 5段 |
9 | 升溫方式 | 自動斜率升溫及快速恒溫功能 |
10 | 恒溫區精度及長度 | ±2℃/1200mm(500℃) |
11 | 單點溫度穩定度 | <±1℃/4h(500℃) |
12 | 升溫時間 | RT→450℃≤45min |
13 | 溫度控制 | 雙模控制 |
14 | 系統極限真空度 | <1Pa |
15 | 工藝壓力范圍 | 80 Pa~320Pa |
16 | 恢復真空時間 | AP→10 Pa<5min |
17 | 系統漏氣率 | 停泵關閥后壓力升率<0.5Pa /min. |
18 | 壓力控制方式 | 快速調整全自動閉環 |
19 | 爐門密封方式 | 柔性自適應密封 |
20 | 工藝控制方式 | 工藝過程全自動控制,多重安全連鎖報警 |
21 | 人機交互界面 | LCD顯示、觸摸操作、工藝編輯、在線監控、權限管理、班組管理、組網功能 |
22 | 送料方式 | 自動上下舟 |
23 | 外形尺寸 | 6650×2040×3580(L×W×H,mm,四管) |